锂電(diàn)池環境測試介紹-老化房

安(ān)全性已是锂電(diàn)池發展之重要的議題，锂電(diàn)池已經被廣泛應用(yòng)于筆(bǐ)記型計算機、手工(gōng)具(jù)等3C電(diàn)子産(chǎn)品，而應用(yòng)于電(diàn)動車(chē)及油電(diàn)混合車(chē)的動力來源更是未來關鍵主流之一，自2006年SONY制的筆(bǐ)記型計算機锂電(diàn)池因爆炸被大量召回後，接連着手機和Apple iPhone..等爆炸事件，諸多(duō)知名(míng)廠牌之3C電(diàn)子産(chǎn)品也因锂電(diàn)池組熱失控反應，導緻過熱、火災及爆炸等事件耳聞不斷，嚴重沖擊消費者信心與電(diàn)池産(chǎn)業，也因此锂電(diàn)池的孜全性問題逐漸浮上台面，促使各相關産(chǎn)業針對锂電(diàn)池安(ān)全性進行深入研究。

    锂電(diàn)池需用(yòng)老化房進行高溫老化、低溫、溫度循環各種溫度條件及變化下，與充放電(diàn)系統整合進行充各種溫度的過充、放電(diàn)、短路試驗，評估锂電(diàn)池在試驗過程會産(chǎn)生焦耳熱累積導緻電(diàn)池溫升，使電(diàn)池内部材料存在熱失控風險，一旦電(diàn)池發生熱失控而出現爆炸及燃燒，锂電(diàn)池在進行各種溫度變化及充放電(diàn)相關試驗時，為(wèi)确保其試驗安(ān)全性，可(kě)透過防爆視窗架設遠(yuǎn)端攝影機進行試驗監控，并偵測每一顆電(diàn)池的表面溫度，如果電(diàn)池表面有(yǒu)異常升溫時極可(kě)能(néng)出現爆炸，系統立即啓動安(ān)全保護機制，假設電(diàn)池瞬間爆炸時，高強度内爐體(tǐ)可(kě)承受爆炸威力，标配防爆孔也會将爆炸壓力宣洩，锂電(diàn)池專用(yòng)試驗機将會偵測到其失火狀态，也會立即滅火降溫，滅火後透過抽排風機制，将箱體(tǐ)内的有(yǒu)機揮發性氣體(tǐ)及異味氣體(tǐ)進行排放，以确保實驗室内的潔淨度，透過多(duō)項國(guó)際規範所要求的锂電(diàn)池安(ān)全試驗，以避免锂電(diàn)池出現爆炸燃燒..等疑慮。